机译:负偏置温度不稳定性的最新问题:初始退化,界面陷阱生成的场依赖性,空穴陷阱效应和弛豫
机译:动态负偏置温度不稳定性的超快测量分离空穴陷阱和界面态产生
机译:Wentzel-Kramers-Brillouin密度梯度法分析负偏压温度不稳定性应力下界面陷阱产生的场相关性
机译:应力条件对负偏压温度不稳定性相关界面陷阱产生的影响
机译:带有移动氧空位,质子和孔的氧化物的化学计量比弛豫:温度依赖性和俘获效应
机译:陷孔的顺磁共振和松弛。
机译:电荷捕获在MOS2-SiO2接口上的影响对MOS2场效应晶体管的亚阈值摆动的稳定性
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机译:陷阱电子对无碰撞单发射器等离子体时间无关负偏态的影响:理论与仿真